Operar un microscopi de força atòmica (AFM), un instrument que permet «tocar» i fotografiar superfícies a escala nanomètrica, requereix que una persona experta prengui contínuament petites decisions: traduir la intenció de l'experiment en ordres concretes, avaluar la qualitat de les dades que van arribant, ajustar els paràmetres d'imatge sobre la marxa i processar la imatge final. Fins ara, l'automatització d'aquest procés només cobria parts soltes del flux de treball, amb rutines fixes o models entrenats per a una sola tasca.
Un equip liderat per Zahra Ayar i Georg E. Fantner, de l'Escola Politècnica Federal de Lausana (EPFL), amb Marcos Penedo, Mahdi Mehdikhani, Nahid Hosseini i Prabhu Prasad Swain, ha presentat AFM Pilot, un sistema d'IA agèntica que connecta un model de llenguatge de propòsit general amb les funcions reals de l'instrument mitjançant el Model Context Protocol (MCP), el mateix estàndard obert que fan servir cada cop més eines d'IA per parlar amb programari extern. El sistema es divideix en tres agents especialitzats: un que tradueix la intenció experimental en ordres, un que avalua la qualitat de la imatge i n'adapta els paràmetres, i un que diagnostica artefactes i fa el postprocessament final. Els autors destaquen que és «la capa d'execució supervisada, i no la capacitat del model per si sola» el que redueix a zero les ordres incorrectes executades, i que AFM Pilot «iguala els operadors experts en qualitat d'imatge, nombre d'iteracions i temps d'ajust, sense diferència significativa».
El valor de l'estudi és que demostra un disseny concret perquè un agent d'IA operi maquinari científic delicat i car sense supervisió pas a pas, mantenint alhora el control humà sobre l'objectiu de l'experiment i evitant que el sistema executi una ordre perillosa per al mateix instrument o la mostra, un dels grans obstacles pràctics per automatitzar la feina de laboratori més enllà de tasques molt acotades.
Es tracta d'un preprint penjat aquesta setmana a arXiv, encara no revisat per parells, centrat en un únic tipus d'instrument i en un conjunt de tasques d'imatge relativament estàndards; els mateixos autors no aborden si el disseny es pot traslladar directament a altres instruments científics amb fluxos de treball més complexos o menys estandarditzats que el d'un AFM.